數顯式電阻真空計

數顯式電阻真空計

測量范圍：   100000（大氣壓）－0.05Pa

控制輸出：  220V/3A三路繼電器（帶密碼鎖）

                  繼電器拖掛模式可編程

顯示單位：  Torr、Pa、mbar

數據輸出：  RS485（配通訊光盤）（選件）

配用規管：  ZJ-52（或ZJ-52K)電阻規

面板尺寸：  220寬×100高×150深

開孔尺寸：  202寬×96高

可選尺寸：  220寬×133高×150深

用于：旋片機械泵和羅茨泵抽氣設備真空測量及自動控制

數顯式電阻真空計

產品名稱：物理光學綜合實驗 偏振光光學實驗裝置 產品型號：RLE-ME03

物理光學綜合實驗 偏振光光學實驗裝置  型號：RLE-ME03

實驗簡介

  物理光學是光學與光學工程專業的主要理論基礎，本實驗以光的波動性為主要研究對象，從電磁波理論和傅里葉分析兩個角度，研究光的傳播、干涉、衍射、偏振等性質。RealLight®應用新一代空間光調制器(SLM)，從波的疊加原理出發研究光的干涉規律，討論光的相干性；圍繞衍射闡述光的波動性，運用SLM模擬二元光學元件，從實際出發研究光的衍射；研究光在晶體中的傳播特性和偏振元件對光的作用。本實驗是緊貼光電專業《工程光學》等相關課程的專業配套實驗。

實驗內容

1、楊氏雙縫干涉實驗；

2、馬赫-曾德干涉實驗；

3、菲涅爾衍射實驗（圓孔、矩孔、三角形、多邊形孔）；

4、夫瑯禾費衍射實驗（圓孔、矩孔、三角形、多邊形孔）；

5、衍射光學元件（DOE）設計；

6、偏振光產生與檢驗（線偏振、圓偏振、橢圓偏振）                           

7、馬呂斯定律驗證實驗；            

8、波片與偏振光實驗（左旋偏振光、右旋偏振光）                             

9、偏振干涉實驗（波片的快軸、慢軸）

產品名稱：固體材料高溫比熱容測試儀 產品型號：GHC-II

固體材料高溫比熱容測試儀    型號：GHC-II 
 一、系統簡介   
    比熱屬于物質基本的物性參數，對于不同溫區，不同材料，已經發展出了許多測量方法。我們設計的高溫比熱測試系統是基于比熱的基本定義采用混合法測試（100度以下到-200度采用熱法測試，有DHC-II型材料低溫比熱容測試儀實現）。運用現代計算機測試技術實現不同溫度下固體材料的比熱容自動測試。廣泛應用于科研教學對于固體材料比熱容的測試研究。   
 二、系統組成   
   GHC- II固體材料高溫比熱容測試儀由管狀立式電阻爐(1000度為電阻絲發熱，1700度為鉬絲發熱，高于1700度為石墨爐管)，恒溫器、控溫儀、高精度測溫儀、量熱計，計算機測試系統等組成。實驗時先將式樣在管狀加熱爐中加熱到實驗溫度，然后再落入到量熱計中，全過程由計算機測量系統采集到式樣和量熱計的溫度變化。后得出材料的比熱容。對高溫易氧化的樣品需要配備真空系統。   
三、變溫原理與控溫實驗方法   
    立式管狀電爐的控溫根據溫度的要求選擇不同的發熱材料，其電氣控制方式不同，加熱器采用高真空熱或可通氣氛（氬氣，氨氣等），對石墨爐采用外殼通水冷保護。控溫采用程序控制，智能PID調節，可任意設定溫度控制曲線。通過控溫儀控制加熱，使樣品的溫度改變或恒定。為了減小氣體分子碰撞漏熱引起的實驗誤差，實驗前應在室溫下用渦輪分子泵或高真空機組將管式電爐加熱器內真空抽至1×10-2Pa以上，并仔細對管式電爐加熱器進行檢漏。 管式電爐加熱器的底部有熱量熱計。本測量系統是在對以往很多實驗裝置設計、制造與使用總結的基礎上，重新設計出來的多功能測量系統。結構原理如下圖。  

四、系統主要技術指標   
    1：溫  度  范  圍：    室 溫—1400。   
    2：控  溫  精  度：    ±0.3K/30分鐘(與設置有關）   
    3：測溫小分辨率：    0.01K      
    4：加  熱  方  式：   電阻絲（或鉬絲）。   
    5：采用智能PID 調節，程序控制。   
    6：全過程計算機數據采集。   
    7：真空度可達:量熱計：小于2*10-3 Pa。加熱器小于：5Pa(用戶根據樣品需要說明 )   
   常規為：- 0.1MPa   
    8：測試軟件widows xp操作環境，中文操作界面   
    9：樣品大小：直徑：11mm，高30mm，粉樣配標準式樣盒。   
    10：測試原理滿足標準：GJB330A-2000，GJB1715-93   
    11：可上網實現網絡在線遠程技術支持及遠程測控和傳輸