灰密成套測量裝置

灰密成套測量裝置 ，是本公司根據我國電網防污閃工作的需要，配合電網污穢等級劃分的新標準而的“灰密”成套測量裝置。灰密是指緣子表面層的污穢不可溶成分，非可溶殘渣的含量—灰密（NSDD）而污穢等級需要等值附鹽密和灰密組合才可確定，通常污穢度中鹽密和灰密之間的關系是在5～10倍之間較分散，只有進行灰密測量才能正確確定污級。該裝置符合GB/T16434—200*《污穢條件下緣子的選擇和尺寸確定第1部分：定義、信息和一般原則》（代替GB/T 16434-1996、GB/T 5582-1993、JB/T 5895-1991）和電網公司Q/GDW152—2006《架空線路和變電站環境污區分級及外緣選擇標準》規定的要求。YLHM型灰密成套測量裝置包含：精密電子天平分析、電氣干燥控制、測量過濾加速器及測量附件等幾部分組成。 

二、技術參數

三、功能特點 

1、灰密稱重分析部分配有的高精度稱重分析天平，它具有數字化多點線性修正；具有數字化多點漂移修正；具有開機自檢功能；測量可以選擇多種模式；具有“去皮”功能 

2、配以電熱恒溫干燥箱，具有溫度自整定，自動控制系統可保持箱內恒溫；具有*的多層擱版，具有一次干燥更多試品能力；工作室采用“冷熱空氣對流”技術，保證箱內空氣自動變換；有大示窗便于觀察。 

    我公司為配合現場灰密測量工作，了“灰密輔助加速器”真空加速利用優化應力分布新技術，帶動負載能力大，可以長時間對密閉容器抽真空，加速能力高，使用壽命更長，能夠大大提高灰密測量的速度，按照新標準規定進行灰密測量時，在保證測量準確性的前提條件下，采用“灰密輔助加速器”可以加速過濾時間縮短測量時間。

五、灰密測量輔助加速器特點

（1）無污染傳輸、免維護；大流量，操作簡便；

（2）允許介質富含水汽，防水蝕性好； 功耗小，噪音低；

（3）抽取真空和輸出壓縮空氣兩用；

（4）根據工作需要可以調節負壓系統.

產品名稱：* 防爆激光測距儀 產品型號： YHJ1000

 * 防爆激光測距儀型號：YHJ1000 
  
防爆標志Ex ia IICT3 Ga 
自帶雙水平泡  測量更精準 
水平與垂直雙方向的水平儀設置，讓用戶在實際測量時可參照，測量更精準。 
防塵等級 IP5X：防止有害的粉塵堆積。 
防水等級 IPX4：液體由任何方向潑到外殼時不會受到傷害。、 
量程  0.05-100m  
精度  ±1.5mm  
測量單位  m/in/ft/ft+in  
激光等級  Class 2M II  
激光類型  635nm,＜1mW  
單次測量、連續測量、zui大/zui小值測量、面積/體積測量、間接勾股定理測量  
蜂鳴器、四行照明顯示  
按鍵類型  軟膠按鍵  
按鍵壽命  過100萬次  
電池類型  TypeAAA2*1.5V  
電池壽命  可達5000次測量  
防護等級  IP54  
操作溫度  0℃~40℃  
存儲溫度  -10℃~60℃  
歷史數據  20組  
自動關閉激光  30秒  
自動關機  180秒  
儀器規格  100*46*31(mm)  
儀器重量  130g

產品名稱：雷達物位計 /物位計  產品型號：TC-GDFLEX41

雷達物位計 /物位計     型號:TC-GDFLEX41

產品技術指標 
類別 TC-GDFLEX41 TC-GDFLEX41 TC-GDFLEX41 
應用 液體、固體顆粒  液體、固體顆粒 液體，界位 
測量范圍 35 m 6 m 6 m 
過程連接 螺紋、法蘭 螺紋、法蘭 法蘭 
過程溫度 -40...160℃ -40...160℃ -40...350℃ 
過程壓力 -1.0...40bar -1.0...40bar -1.0...60bar 
精度 ±3mm ±3mm ±1mm 
頻率范圍 8.4GHZ 8.4GHZ 10.2GHZ 
防爆防護等級 EXiaIICT6/IP68 EXiaIICT6/IP68 EXiaIICT6/IP68 
信號輸出 4-20mA/HART(兩線)
Profibus PA 4-20mA/HART(兩線)
Profibus PA 4-20mA/HART(兩線)
Profibus PA 
 
TC-GDFLEX40系列可用于連續測量液體及固體粉料、粒料及液體的物位
纜式探頭：主要用于測量液體及固體料位，大測量距離35米
桿式探頭：主要用于液體
同軸桿式探頭：用于液體
可向系統提供以下信號接口：HART，4…20Ma；PROFIBUS-PA；基金現場總線

產品名稱：SX1934D型二合一數字式四探針測試計 產品型號：SX1934D

 SX1934D型二合一數字式四探針測試計 
 產品說明 
SX1934D型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低、中值電阻進行測量，于半導體、太陽能行業的篩選。 
產品特點 
 　　儀器由主機、測試探頭（可選配測試臺）等部分組成，測試結果由數字表頭直接顯示。主機主要由數控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成，自動轉換量程。測試探頭高分子材料和高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長。儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點(自動調零)。可鑒別半導體PN類別。

詳細參數